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IWAPS 论文主题

IWAPS致力于发表前沿的微电子制造技术研究成果。会议主题涵盖先进半导体制造领域中从早期的理论和实验,到工业化大规模量产的应用等内容。包括但不局限于:

  • 主流光刻技术
  • 新型成像技术
  • 量测及缺陷检测
  • 计算光刻技术
  • 设计工艺联合优化(DTCO)与可制造性设计(DFM)
  • 材料
  • 工艺

摘要要求

摘要必须清楚地描述论文的性质、研究主题、研究内容、组织结构、要点以及研究意义。且用英文撰写。

摘要必须包括以下内容:论文标题、关键词、作者的姓名、所属单位、邮件地址和通讯地址。摘要的字数不应超过500个单词。对研究内容的细节的描述将增加稿件被接收的可能。同时,我们强烈建议在提交的摘要中使用图表。论文摘要模板

摘要截至日期 2024年7月31日。摘要提交邮箱:iwaps_program@ime.ac.cn

摘要录用通知日期 2024年8月21日


全文要求

论文摘要被接收后,作者需要按照全文模板的要求提交最终论文。论文全文模板参考SPIE会议标准模板(ProcSPIETemplate_A4)。论文投稿方式待系统开通后公布(将使用SPIE投稿系统,请务必注意时间节点)。若有问题,欢迎联系iwaps_program@ime.ac.cn

本届会议论文将被送检SPIE Digital Library及EI,请务必在截止日期前投稿全文,否则不予送检,请严格参考模板格式。

全文提交截止日期 2024年9月30日


Presentation要求

口头报告:

被选作进行口头报告的作者,应当参加2024年的IWAPS-会议并用英文进行15分钟与论文相关的技术报告。演讲者应当预先提供其会议报告的PPTPPT应于2024年9月30日前发送至邮箱iwaps_program@ime.ac.cn


海报展示:

被选作进行海报展示的作者,请按要求进行海报文件的制作

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